Microsemi（Symmetricom公司）公司开发了直接数字相位噪声测量技术，这项技术已经扩展到一个测试探头。精确的相噪和阿伦方差测量成本显著降低。Microsemi 3120A是一款高性能的艾伦方差测试仪，可以测量射频源端口和双端口设备的振幅、相位和频率的稳定（频率：0.5MHz—30MHz）。

主要特点：

• 实时“带状图”相和具有亚皮秒（PS）精度和频率的差异
• 绝对频率计数为：13+位每秒，最大17位（升级选项）)
• 阿伦方差(ADEV)通常小于1E-13（t=1s）
• 改进的阿伦方差（MDEV）方面，哈德曼方差(HDEV)，时间偏差（TDEV）。（升级选项）
• RMS集成的相噪和相噪偏移量为：
• 1Hz—100kHz，水平低于-170dBc/Hz(升级选项)
• AM噪声偏移量为：1Hz—100kHz，<-170dBc/Hz(升级选项)
• RMS集成的抖动时间小于100fs，残余抖动为：1Hz—100kHz（升级选项）

• 在几秒内能显示出测试结果

• 支持不同频率的输入和参考的测试
• 高性价比的解决方案
• 无测量的校准要求，节省时间
• 易于具有直观图形用户界面的软件使用
• 小尺寸

       3120A需要一台PC主机和用户提供的外部参考振荡器。几乎所有方面的测量性能的准确度、重复性、本底噪声和杂散响应都依赖于能够提供最好的参考信号，如：采用一个独立的低噪声OCXO以进行相位噪声和调幅噪声测量等。

主要技术指标：

• 独立输入和参考频率为：0.5MHz-30MHz
• PM噪声的互相关测试偏移量为：1Hz-100kHz
• 阿伦方差(ADEV)通常为：<1E-13(t=1s)
• SFDR指定为：-100dBc,，通常低于-120dBc
• 频率和相位差图以一百万+点记录描绘振荡器漂移
• 包括数字I/O拓展端口和独立ADCs输入
• 易于使用的测量软件，完整多线程高性能测量
• ASCII文件格式拥有灵活的数据导入和导出选项

可选功能：（软件升级）

• AM噪声
• MDEV、HDEV、TDEV和抖动测量的信号统计特性
• 频率计数器许可协议
• 模板测试许可
• 所有受支持的测量，都具有用户可定义的限制线