53100A相位噪声分析仪可以测量高性能RF信号源的幅度、相位和频率稳定性。测试频率范围为1MHz到200MHz。53100A可以告诉您关于您被测设备的任何稳定性特性,时间刻度范围可以从飞秒到天。无论是单独使用还是集成到自动化测试系统中,小巧的外形和业界领先的测量速度使得51300A可以适用于大多数应用。
继承并扩展了3120A和51XXA系列仪器的优点,53100A可以以更低的成本来快速精确地测量SSB单边带相位噪声和ADEV阿伦反差。得益于改进地设计和制造工艺进步,53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。
主要特点:
信号输入和参考输入,频率范围1MHz到200MHz
没有相位锁定和不需要测量校准
单或双参考振荡器输入允许互相关测量
TSC 51XXA命令和数据流仿真功能减少了重写现有测试脚本的负担
直观的图形界面使用户能够快速开始测量
亚皮秒精度相位和频率差的实时带状图
绝对频率计数精度每秒钟13位以上,最高17位
ADEV典型值<5E-15(1秒)
可以测量MDEV、HDEV、TDEV
相位噪声和幅度噪声偏移范围为0.001Hz到1MHz,水平典型小于-175dBc/Hz(10MHz载波)
时间抖动、残余FM调频和SSB载波/噪声比率
在Windows系统上使用高性能的基于电脑的DSP技术,所有这些测量都可以同时进行。您可以查看、保存、比较、打印和导出各种格式数据,包括TSC 51XXA兼容的。测量精度取决于用户提供的外部参考源,参考源频率为1MHz到200MHz,仪器本身不需要校准。
主要技术指标:(25℃环境)
性能
频率范围
| 1到200MHz
|
ADEV
| 7E-15 (1秒) 典型值5E-15 2E-16(1000秒) 典型值1E-16 |
相位噪声规格
偏移频率范围:0.001Hz到1MHz
系统噪声平面
偏移
| 5MHz载波
| 100MHz载波
|
1Hz
| -135
| -120
|
10Hz
| -145
| -130
|
100Hz
| -155
| -145
|
1kHz
| -165
| -160
|
10kHz
| -170
| -170
|
>100kHz
| -170
| -170
|
Spurious (5到100MHz)
| -100
| -100
|
电气特性
输入信号电平:-5到+15dBm
输入阻抗:50欧姆
机械和环境规格
包含附件
前面板
N(公)RF连接头:2个,连接被测信号和参考信号
SMA(母)RF连接头:4个,多通道扩展
LED:仪器状态指示
后面板
订货信息:
编号
| 描述
|
090-53100-000
| 53100A相位噪声测试仪
|
软件:53100A软件随产品一起邮寄。在软件里可以设置各种测量配置/速度,更改显示设置,导入导出数据,运行脚本,设置通过/失败掩膜曲线等等。